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2025-06-19 14:50:35
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老化柜(Burn-in Chamber)是一種用于模擬極端環境條件,加速電子元器件、半導體器件、電池等產品老化過程的專用設備。其核心目標是通過高溫、高濕、溫度循環等環境應力測試,篩選出早期失效產品,確保出廠產品的可靠性和穩定性。以下從工作原理、系統構成及關鍵技術等方面詳細解析老化柜的運行機制。
老化柜的核心設計基于環境應力篩選理論(ESS, Environmental Stress Screening)。該理論認為,產品在早期使用階段(浴盆曲線的初期失效期)的故障率較高,而通過施加高于正常工作條件的環境應力(如高溫、高濕、電壓沖擊等),可以加速材料缺陷、工藝瑕疵或設計問題的暴露,從而快速剔除不合格品。老化柜通過以下技術手段實現這一目標:
溫度控制與熱應力模擬
溫度是影響電子器件可靠性的關鍵因素。老化柜通過加熱系統和制冷系統精確控制內部溫度,使其在設定范圍內(例如-40℃至150℃)快速升降。
濕度控制與濕熱老化
部分老化柜集成濕度控制系統,模擬高濕環境(如20%RH至98%RH)。濕度控制通過蒸汽發生器或超聲波加濕器實現,配合冷凝除濕或干燥劑吸附技術,確保濕度精確穩定。濕熱環境可加速金屬氧化、絕緣材料劣化等問題。
循環系統與動態測試
老化測試通常需要周期性變化環境條件。例如,溫度循環測試(-40℃→85℃,循環100次)可加速焊點疲勞、材料膨脹收縮導致的失效。循環系統通過程序設定溫度/濕度變化速率、駐留時間等參數,模擬實際使用中的動態環境。
電力負載與電應力施加
針對電子元器件,老化柜可對被測物施加額定電壓、電流甚至過載電流,通過電熱耦合效應加速老化。例如,半導體器件在高溫下通電測試,可更快暴露柵極氧化層缺陷或金屬遷移問題。
一臺典型的老化柜由以下子系統構成:
箱體結構
控制系統
安全保護機制
PID控制算法
PID算法通過實時比較設定值與反饋值的偏差,動態調整加熱/制冷輸出,確保溫度快速穩定。例如,當實測溫度低于目標值時,PID控制器增大加熱功率,反之則啟動制冷。
熱流場仿真優化
通過CFD(計算流體力學)模擬柜內氣流分布,優化風扇位置和導風板角度,避免局部過熱或過冷,提高測試一致性。
多應力耦合技術
高端老化柜可同時施加溫度、濕度、振動、電壓等多重應力,更真實模擬復雜工況。例如,汽車電子測試中需模擬高溫高濕伴隨路面振動的綜合環境。
數據追溯與AI分析
現代老化柜集成數據采集系統,記錄測試全過程參數及被測物性能數據。結合AI算法,可預測產品壽命趨勢或識別潛在失效模式。
半導體器件篩選
芯片在125℃高溫下通電測試48小時,篩選出早期失效的晶圓或封裝缺陷。
鋰電池老化分容
通過多次充放電循環及高溫靜置,穩定電池容量并剔除一致性差的電芯。
汽車電子可靠性驗證
模擬-40℃(極寒)至85℃(引擎艙高溫)循環,驗證ECU、傳感器等部件的耐久性。
LED光衰測試
高溫高濕環境下持續點亮LED,加速熒光粉老化過程,評估光通量衰減率。
老化柜通過精確控制溫度、濕度、電負載等參數,在短時間內模擬產品長期使用中的環境應力,成為提升產品可靠性的關鍵設備。其核心技術在于環境模擬的精確性、系統運行的穩定性以及測試效率的平衡。隨著物聯網、新能源等行業對器件壽命要求的提高,智能化、多應力耦合的老化柜將進一步推動產品質量升級。
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