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隆安
2025-12-19 08:43:47
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工業高溫試驗箱是電子、汽車、航空等領域高溫老化測試的核心設備。選型需關注溫度范圍、均勻性、負載能力等核心參數,優先選擇符合IEC 60068、GB/T 2423等標準的設備。采購流程應包括需求確認、技術協議、FAT/SAT驗收等環節,避免低價陷阱與虛假參數。日常維護需定期校準溫度傳感器、清潔風道,故障排查需依據設備日志與標準流程。
| 核心問題 | 答案 |
|---|---|
| 選型關鍵參數 | 溫度范圍、均勻性±2℃、負載密度≤50W/dm3 |
| 主流標準 | IEC 60068-2-2、GB/T 2423.2、MIL-STD-810G |
| 價格區間 | 小型箱(50L)8萬–15萬,大型箱(1m3)30萬–80萬 |
| 維護周期 | 每季度清潔風道,每年校準傳感器 |
| 參數 | 定義 | 典型值 | 失效邊界 |
|---|---|---|---|
| 溫度范圍 | 工作下限至上限(如-70℃→+300℃) | RT+10℃→+200℃ | 超出范圍導致加熱管過熱保護 |
| 均勻性 | 工作室內各點溫差 | ±2℃(空載) | >±5℃時試樣受熱不均 |
| 升溫速率 | 室溫至最高溫時間 | 5℃/min(非線性) | >10℃/min可能引發熱應力 |
| 負載能力 | 單位體積發熱量 | ≤50W/dm3 | >80W/dm3需強制風冷 |
| 控制方式 | PID/模糊控制 | 伺服電機控溫 | 液壓控制響應慢(>30s) |
| 類型 | 溫度范圍 | 典型應用 | 行業案例 |
|---|---|---|---|
| 小型精密箱 | RT+10℃→+180℃ | 半導體芯片老化 | 華為海思5G芯片測試 |
| 中大型通用箱 | RT+10℃→+300℃ | 汽車電子控制器(ECU) | 比亞迪IGBT模塊測試 |
| 步入式試驗室 | -70℃→+150℃ | 整車高溫耐久 | 特斯拉Model 3電池包測試 |
| 品牌 | 溫度范圍 | 均勻性 | 控制精度 | 符合標準 | 附加特性 | 價格(萬元) |
|---|---|---|---|---|---|---|
| ESPEC(日本) | RT→+300℃ | ±1.5℃ | ±0.5℃ | IEC/MIL | 遠程監控 | 45–80 |
| CSZ(美國) | -70℃→+200℃ | ±2℃ | ±1℃ | ASTM | 數據追溯 | 60–120 |
| 重慶四達(國產) | RT→+150℃ | ±3℃ | ±1.5℃ | GB/T | 中文界面 | 12–30 |
| 階段 | 關鍵動作 | 交付物 |
|---|---|---|
| 需求確認 | 填寫《試驗需求表》(試樣尺寸/功率/測試周期) | 需求文檔V1.0 |
| 技術協議 | 明確溫度均勻性、升溫速率、安全聯鎖條款 | 技術協議書 |
| FAT驗收 | 在廠商工廠進行空載/滿載測試,記錄數據 | FAT報告 |
| SAT驗收 | 在用戶現場復現測試條件,驗證重復性 | SAT證書 |
| 計量校準 | 每年委托第三方機構校準溫度傳感器 | 校準證書 |
在空載狀態下,將9個溫度傳感器布置于工作室上、中、下三層(每層3點),運行至穩態后記錄數據,最大溫差應≤標稱值(如±2℃)。參考GB/T 5170.2–2017《電工電子產品環境試驗設備檢驗方法》。
步驟:1. 檢查通風口是否堵塞;2. 確認試樣負載是否超過額定值(如50W/dm3);3. 查看加熱管接觸器是否粘連。若問題持續,需更換固態繼電器(SSR)。
當試樣體積>0.5m3或需多人同時操作時選擇步入式;若測試PCB板、連接器等小件,優先選小型箱以降低能耗(步入式功率通常>50kW)。
因老化試驗設備參數各異,為確保高效匹配需求,請您向我說明測試要求,我們將為您1對1定制技術方案
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