

隆安
2025-12-17 14:04:20
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老化房、試驗箱、老化箱/柜 > 生產廠家
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| 核心參數 | 推薦范圍 |
|---|---|
| 溫度范圍 | -70℃~+300℃(電子元器件推薦) |
| 控制精度 | ±0.5℃(IEC 60068-2-1標準) |
| 容積選項 | 100L~2000L(按試樣尺寸選擇) |
| 安全聯鎖 | 超溫保護、門鎖互鎖(必備) |
| 校準周期 | 每12個月(CNAS認證實驗室) |
高溫老化試驗箱通過模擬極端溫度環境,驗證產品在長期熱應力下的失效模式。其技術核心包括溫度均勻性控制、加熱系統效率及安全聯鎖機制。根據中國電器科學研究院2025年報告,85%的測試失效源于設備控制精度不足或安全設計缺陷。
| 步驟 | 操作 | 驗證方法 |
|---|---|---|
| 1 | 明確試樣尺寸與負載量 | 計算容積=試樣體積×1.5倍 |
| 2 | 確定溫度波動要求 | 查閱產品標準(如AEC-Q100) |
| 3 | 驗證安全功能 | 要求提供超溫報警測試視頻 |
| 4 | 對比校準記錄 | 索要近12個月CNAS校準證書 |
案例:某半導體廠商采用謝崗試驗箱進行IGBT模塊高溫反偏(HTRB)測試,要求溫度波動≤±1℃,升溫速率5℃/min。設備需配備獨立風道設計,避免試樣間熱干擾。
應用:電池包熱失控測試(GB 38031-2025),需-40℃~+85℃寬溫域控制,同時集成氣體濃度監測系統。安全聯鎖需包含防爆門設計及緊急排風裝置。
場景:復合材料熱老化(ASTM D3045),要求300℃高溫下保持±2℃均勻性,箱體需采用316L不銹鋼內膽以防止氧化污染。
| 型號 | 溫度范圍 | 濕度范圍 | 控制精度 | 標準 | 附加特性 |
|---|---|---|---|---|---|
| XG-HT100 | -70~+150℃ | 10%~98%RH | ±1℃ | IEC 60068 | USB數據導出 |
| XG-HT500 | RT~+300℃ | 無 | ±0.5℃ | GB/T 2423 | 獨立風道 |
| XG-HT2000 | -40~+180℃ | 20%~80%RH | ±1.5℃ | MIL-STD-810 | 防爆設計 |
| 階段 | 關鍵動作 | 交付物 |
|---|---|---|
| 需求確認 | 明確測試標準(如AEC-Q200) | 技術規格書 |
| 技術協議 | 約定驗收標準及違約條款 | 雙方簽字協議 |
| FAT/SAT | 工廠驗收測試(溫度均勻性測試) | FAT報告 |
| 安裝調試 | 驗證接地電阻≤0.1Ω | 安裝記錄表 |
| 計量校準 | 委托CNAS實驗室出具證書 | 校準證書 |
A:按IEC 60068-3-5標準,在空載狀態下布置9個測溫點,運行至穩定狀態后記錄1小時數據,計算最大溫差。優質設備應≤±2℃(150℃以下)或≤±3℃(150~300℃)。
A:常規維護包括加熱管更換(約2000元/次)、循環風機保養(500元/次)及校準費用(1500~3000元)。建議預留設備價格5%~8%作為年度維保預算。
A:若測試標準為MIL-STD或ESA,優先選擇進口品牌(如德國Binder);若執行GB/T或IEC標準,國產謝崗試驗箱在性價比上更具優勢,但需嚴格核查校準記錄。
中國電器科學研究院《環境試驗設備白皮書(2025)》、SAE International《航空航天材料測試標準》、TüV SüD《高溫試驗箱型式試驗指南》
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