atlasci4000試驗箱(高效精準的試驗解決方案 )

隆安
2025-12-15 08:46:33
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內(nèi)容摘要：atlasci4000試驗箱是高溫老化環(huán)境測試的核心設(shè)備，適用于電子元器件、汽車部件、航空航天材料的加速壽命試驗。選型需重點關(guān)注溫度均勻性、負載能力、安全聯(lián)鎖設(shè)計，采購需...

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atlasci4000試驗箱是高溫老化環(huán)境測試的核心設(shè)備，適用于電子元器件、汽車部件、航空航天材料的加速壽命試驗。選型需重點關(guān)注溫度均勻性、負載能力、安全聯(lián)鎖設(shè)計，采購需遵循技術(shù)協(xié)議確認、FAT/SAT驗收、計量校準等流程。用戶需警惕低價陷阱，優(yōu)先選擇符合IEC 60068、MIL-STD-810等標準的廠商。

一、設(shè)備核心價值與適用場景

atlasci4000試驗箱通過精確控制高溫環(huán)境（最高可達300℃），模擬材料在極端條件下的失效機理，廣泛應(yīng)用于電子元器件（如IGBT模塊、電容）、汽車部件（如線束、電池包）、航空航天材料（如復(fù)合材料、密封件）的加速壽命試驗。其核心價值在于縮短研發(fā)周期，降低現(xiàn)場故障率，符合IEC 60068-2-2《高溫試驗》和MIL-STD-810G《環(huán)境工程考慮和實驗室測試》等國際標準。

二、快速答案卡片

問題	答案
atlasci4000價格范圍	15萬–80萬元（依配置浮動）
典型溫度范圍	室溫+10℃～300℃
關(guān)鍵選型參數(shù)	溫度均勻性±2℃、負載密度≤50W/dm3
推薦廠商篩選標準	通過CNAS認證、提供FAT/SAT報告
維護周期	每季度校準溫度傳感器，每年更換加熱管

三、選型決策流程與技術(shù)參數(shù)

1. 參數(shù)解釋表

參數(shù)	定義	典型值（atlasci4000）	失效影響
溫度均勻性	工作區(qū)各點溫差	±2℃（空載）	導(dǎo)致試樣局部過熱
負載密度	單位體積發(fā)熱量	≤50W/dm3	超限引發(fā)溫度波動
升溫速率	室溫到額定溫度時間	5℃/min（最大）	影響試驗效率
安全聯(lián)鎖	超溫/過流保護	三級報警+自動斷電	防止設(shè)備損毀

2. 選型決策流程

明確試驗需求：試樣尺寸（最大1m3）、溫度范圍（如150℃–250℃）、試驗時長（如1000小時）。
驗證關(guān)鍵參數(shù)：要求廠商提供第三方校準報告（如中國計量科學(xué)研究院2025年報告）。
評估附加功能：如數(shù)據(jù)記錄（采樣率≥1次/秒）、遠程監(jiān)控（支持Modbus協(xié)議）。
詢價模板：
“請?zhí)峁゛tlasci4000-XX型試驗箱的詳細配置清單（含加熱功率、控制器型號）、CNAS認證編號、FAT/SAT驗收流程及價格（含稅）。”

四、典型工況與標準解析

1. 典型工況

電子元器件測試：125℃下持續(xù)1000小時，監(jiān)測電容容量衰減率（依據(jù)JEDEC JESD22-A113）。
汽車線束測試：150℃下48小時，檢測絕緣層脆化（依據(jù)ISO 6722-1）。
航空航天材料測試：200℃下72小時，測量復(fù)合材料玻璃化轉(zhuǎn)變溫度（依據(jù)ASTM D7028）。

2. 相關(guān)標準與條款

標準	適用場景	關(guān)鍵條款
IEC 60068-2-2	通用高溫試驗	溫度穩(wěn)定時間≥2小時
MIL-STD-810G	軍用設(shè)備環(huán)境適應(yīng)性	Method 501.5高溫貯存
GB/T 2423.2	中國電工電子產(chǎn)品高溫試驗	溫度偏差±2℃

五、atlasci4000與競品橫評表

型號	溫度范圍	濕度范圍	容積選項	控制精度	符合標準	附加特性
atlasci4000-A	RT+10～300℃	10%～98%RH	0.5m3/1m3	±1.5℃	IEC 60068	數(shù)據(jù)追溯系統(tǒng)
競品X-3000	RT+5～280℃	20%～95%RH	0.8m3	±2.5℃	GB/T 2423	無遠程監(jiān)控
競品Y-500	RT～250℃	不支持濕度	0.3m3	±3℃	MIL-STD-810	手動記錄