

隆安
2025-12-12 13:49:44
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隆安老化設(shè)備25生產(chǎn)廠家直銷價格,品質(zhì)售后雙保障,廠家直供價更優(yōu)! 馬上咨詢
惠州地區(qū)選購鹽霧試驗箱需優(yōu)先核查設(shè)備是否符合GB/T 2423.17-2008/IEC 60068-2-11標(biāo)準(zhǔn),重點關(guān)注溫度控制精度(±0.5℃)、噴霧均勻性(≥85%)及安全聯(lián)鎖功能。推薦通過ISO 9001認(rèn)證廠商,結(jié)合試樣尺寸、負(fù)載量及預(yù)算進(jìn)行選型,避免低價低質(zhì)設(shè)備導(dǎo)致測試數(shù)據(jù)失真。
惠州地區(qū)用戶選擇鹽霧試驗箱需以標(biāo)準(zhǔn)合規(guī)性為核心,優(yōu)先驗證設(shè)備是否通過GB/T 2423.17-2008或IEC 60068-2-11認(rèn)證,確保測試數(shù)據(jù)可追溯。技術(shù)層面需關(guān)注溫度控制精度(±0.5℃)、噴霧均勻性(≥85%)及安全聯(lián)鎖功能(如超溫自動斷電)。推薦通過ISO 9001認(rèn)證的廠商,結(jié)合試樣尺寸(如標(biāo)準(zhǔn)450×600mm)、負(fù)載量(10-50kg)及預(yù)算(5萬-20萬元)進(jìn)行選型。
| 問題 | 答案 |
|---|---|
| 惠州靠譜品牌推薦 | 隆安、科明、環(huán)儀(需驗證ISO 9001認(rèn)證) |
| 核心參數(shù)標(biāo)準(zhǔn) | 溫度精度±0.5℃,噴霧量1-2ml/80cm2·h |
| 典型價格區(qū)間 | 基礎(chǔ)型5萬-8萬,高精度型12萬-20萬 |
| 關(guān)鍵標(biāo)準(zhǔn) | GB/T 2423.17-2008、ASTM B117 |
| 避坑要點 | 拒絕無校準(zhǔn)報告設(shè)備,警惕低價低質(zhì)機(jī)型 |
致:XX廠商
需采購鹽霧試驗箱1臺,要求:
1. 符合GB/T 2423.17-2008標(biāo)準(zhǔn);
2. 溫度范圍RT+10℃~55℃,精度±0.5℃;
3. 容積≥800L,試樣架負(fù)載≥30kg;
4. 提供CNAS校準(zhǔn)報告及3年質(zhì)保。
請于3個工作日內(nèi)報價,并附技術(shù)參數(shù)表。
| 參數(shù) | 說明 | 典型值 |
|---|---|---|
| 溫度范圍 | 試驗箱工作溫度區(qū)間 | RT+10℃~55℃ |
| 溫度精度 | 實際溫度與設(shè)定值偏差 | ±0.5℃ |
| 噴霧量 | 單位面積每小時鹽霧沉降量 | 1-2ml/80cm2·h |
| 噴霧均勻性 | 箱內(nèi)各點鹽霧濃度一致性 | ≥85% |
| 安全聯(lián)鎖 | 超溫/過載保護(hù)功能 | 必備 |
| 品牌 | 溫度精度 | 容積選項 | 符合標(biāo)準(zhǔn) | 附加特性 | 價格區(qū)間 |
|---|---|---|---|---|---|
| 隆安 | ±0.5℃ | 600L/1000L | GB/T 2423.17 | 自動補(bǔ)水 | 8萬-15萬 |
| 科明 | ±0.8℃ | 800L/1200L | ASTM B117 | 遠(yuǎn)程監(jiān)控 | 10萬-18萬 |
| 環(huán)儀 | ±1℃ | 400L/800L | IEC 60068 | 觸摸屏控制 | 5萬-12萬 |
| 故障現(xiàn)象 | 可能原因 | 解決方案 |
|---|---|---|
| 噴霧量不足 | 噴嘴堵塞/空氣壓力低 | 清洗噴嘴/調(diào)整壓力至1kgf/cm2 |
| 溫度波動大 | 加熱管老化/溫控器故障 | 更換加熱管/校準(zhǔn)溫控器 |
| 箱體腐蝕 | 鹽液泄漏/材質(zhì)不耐蝕 | 檢查密封條/更換PVC內(nèi)膽 |
是的。GB/T 2423.17-2008是電子電器行業(yè)通用標(biāo)準(zhǔn),未通過認(rèn)證的設(shè)備可能導(dǎo)致測試數(shù)據(jù)無效,影響產(chǎn)品認(rèn)證(如CE、UL)。
使用集霧杯測量箱內(nèi)不同位置(如左上、中、右下)的鹽霧沉降量,偏差應(yīng)≤15%。例如,中心點測量值為1.8ml/80cm2·h,則其他點應(yīng)在1.53-2.07ml范圍內(nèi)。
低價設(shè)備常采用低精度溫控器(±1℃以上)、普通鋼材內(nèi)膽(易腐蝕),且缺乏安全聯(lián)鎖功能,可能導(dǎo)致測試中斷或設(shè)備損壞。
外部權(quán)威來源:中國電器科學(xué)研究院《環(huán)境試驗設(shè)備技術(shù)白皮書》
因老化試驗設(shè)備參數(shù)各異,為確保高效匹配需求,請您向我說明測試要求,我們將為您1對1定制技術(shù)方案
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