

隆安
2025-12-08 08:50:50
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老化房、試驗(yàn)箱、老化箱/柜 > 生產(chǎn)廠家
隆安老化設(shè)備25生產(chǎn)廠家直銷價(jià)格,品質(zhì)售后雙保障,廠家直供價(jià)更優(yōu)! 馬上咨詢
高低溫試驗(yàn)箱可通過(guò)改造或特定型號(hào)實(shí)現(xiàn)溫度沖擊試驗(yàn),但需滿足溫度轉(zhuǎn)換速率、負(fù)載適應(yīng)性等關(guān)鍵參數(shù)。普通高低溫箱因溫度轉(zhuǎn)換慢(通常>5℃/min),無(wú)法直接替代專用溫度沖擊箱(轉(zhuǎn)換速率≥30℃/min)。選型時(shí)需明確試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)(如MIL-STD-810G、IEC 60068-2-14)、負(fù)載類型及控制精度,避免因設(shè)備不匹配導(dǎo)致測(cè)試失效。
| 問(wèn)題 | 答案 |
|---|---|
| 高低溫試驗(yàn)箱能否做溫度沖擊試驗(yàn)? | 普通型號(hào)不可直接替代,需滿足溫度轉(zhuǎn)換速率≥30℃/min、負(fù)載適應(yīng)性等條件,部分改造型號(hào)或?qū)S脹_擊箱可實(shí)現(xiàn)。 |
| 關(guān)鍵選型參數(shù) | 溫度范圍(-70℃~+200℃)、轉(zhuǎn)換速率(≥30℃/min)、負(fù)載容量、控制精度(±1℃) |
| 適用標(biāo)準(zhǔn) | MIL-STD-810G、IEC 60068-2-14、GJB 150.5A |
| 典型故障 | 溫度過(guò)沖、傳感器失效、制冷系統(tǒng)漏冷 |
溫度沖擊試驗(yàn)的核心需求是快速溫度轉(zhuǎn)換(通常30~60℃/min)和大溫差波動(dòng)(如-55℃到+125℃),而普通高低溫試驗(yàn)箱的溫度轉(zhuǎn)換速率多在5~10℃/min,無(wú)法滿足標(biāo)準(zhǔn)要求。其差異體現(xiàn)在:
實(shí)測(cè)案例:某汽車電子廠商使用普通高低溫箱模擬-40℃~+85℃沖擊,因轉(zhuǎn)換速率不足(實(shí)際8℃/min),導(dǎo)致產(chǎn)品內(nèi)部焊點(diǎn)虛焊未被檢出,后續(xù)在專用沖擊箱中復(fù)現(xiàn)故障。
步驟1:明確試驗(yàn)需求
| 參數(shù) | 說(shuō)明 | 典型值 |
|---|---|---|
| 溫度范圍 | 覆蓋產(chǎn)品工作極限 | -70℃~+200℃ |
| 轉(zhuǎn)換速率 | 關(guān)鍵指標(biāo),需≥標(biāo)準(zhǔn)要求 | 30℃/min(MIL-STD-810G) |
| 負(fù)載尺寸 | 樣品最大外形 | 500mm×500mm×500mm |
| 駐留時(shí)間 | 高溫/低溫保持時(shí)長(zhǎng) | 0.5~60min可調(diào) |
步驟2:技術(shù)協(xié)議確認(rèn)
詢價(jià)模板:
“請(qǐng)?zhí)峁M足IEC 60068-2-14標(biāo)準(zhǔn)的兩箱式溫度沖擊箱報(bào)價(jià),溫度范圍-65℃~+150℃,轉(zhuǎn)換速率≥30℃/min,負(fù)載容量10kg,含第三方計(jì)量證書。”
| 參數(shù) | 普通高低溫箱 | 專用溫度沖擊箱 |
|---|---|---|
| 溫度范圍 | -70℃~+180℃ | -80℃~+220℃ |
| 轉(zhuǎn)換速率 | 5~10℃/min | 30~60℃/min |
| 控制精度 | ±1℃ | ±0.5℃ |
| 腔室結(jié)構(gòu) | 單腔室 | 雙腔室/三腔室 |
| 符合標(biāo)準(zhǔn) | IEC 60068-2-1 | IEC 60068-2-14、MIL-STD-810G |
| 價(jià)格區(qū)間 | 8萬(wàn)~30萬(wàn)元 | 25萬(wàn)~120萬(wàn)元 |
Q1:能否通過(guò)改造普通高低溫箱實(shí)現(xiàn)溫度沖擊?
A1:理論上可加裝液氮噴射或快速風(fēng)門,但改造成本(約8萬(wàn)~15萬(wàn)元)接近新購(gòu)專用箱,且穩(wěn)定性差,不推薦。
Q2:兩箱式與三箱式?jīng)_擊箱如何選擇?
A2:兩箱式(樣品移動(dòng))轉(zhuǎn)換快(≤5s),但負(fù)載限制(通常<5kg);三箱式(氣流切換)適合大負(fù)載(如20kg以上),但轉(zhuǎn)換時(shí)間較長(zhǎng)(10~30s)。
Q3:溫度沖擊試驗(yàn)的常見失效模式?
A3:電子元件焊點(diǎn)開裂、塑料件變形、密封圈老化,需結(jié)合X-Ray檢測(cè)和截面分析定位問(wèn)題。
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