導讀：

目錄（含錨點）

1. 快速答案卡片
2. 技術核心：選型與參數(shù)解析
3. 采購全流程：從需求到維保
4. 選型對比表：主流廠商橫評
5. 驗收與校準：關鍵檢查項
6. FAQ：高頻問題解答
7. 外部參考

快速答案卡片：

• 核心參數(shù)：溫度范圍（-70℃~+180℃）、均勻性±2℃、負載容量（按試樣體積計算）
• 關鍵標準：GB/T （高溫試驗）、IEC 60068-2-2
• 避坑要點：拒絕無CNAS實驗室的廠商，拒絕模糊驗收條款的合同
• 典型故障：加熱管燒毀（過載導致）、傳感器漂移（未定期校準）

技術核心：選型與參數(shù)解析

關鍵參數(shù)解釋表

選型決策流程

1. 需求確認：明確試樣尺寸（長×寬×高）、溫度范圍（如125℃±2℃持續(xù)72小時）、測試周期（單次批量）。
2. 參數(shù)匹配：根據(jù)試樣體積選擇容積（預留20%空間），根據(jù)精度要求選擇控制方式（伺服優(yōu)于PID）。
3. 標準核查：確認廠商設備通過GB/T 、IEC 60068-2-2認證，提供CNAS實驗室校準報告。
4. 詢價模板： ### 采購全流程：從需求到維保 #### 采購Checklist | 階段 | 關鍵動作 | 交付物 | | --- | --- | --- | | 需求定義 | 明確試樣類型、測試周期、預算范圍 | 《技術需求說明書》 | | 技術協(xié)議 | 約定溫度波動度、均勻性、安全聯(lián)鎖等指標，明確驗收不合格的賠償條款 | 《技術協(xié)議書》 | | 報價對比 | 對比3家以上廠商報價，核查配置清單（如是否含備用加熱管） | 《報價對比表》 | | FAT測試 | 在廠商工廠驗證設備性能（如升溫速率、均勻性），記錄超標數(shù)據(jù) | 《工廠驗收測試報告（FAT）》 | | SAT測試 | 在用戶現(xiàn)場模擬實際工況（如滿載測試），確認與FAT數(shù)據(jù)一致性 | 《現(xiàn)場驗收測試報告（SAT）》 | | 計量校準 | 每年委托第三方機構(gòu)（如中國計量科學研究院）校準，出具CNAS證書 | 《校準證書》 | ### 選型對比表：主流廠商橫評 | 廠商 | 溫度范圍 | 濕度范圍 | 容積選項 | 控制精度 | 符合標準 | 附加特性 | | --- | --- | --- | --- | --- | --- | --- | | 隆安老化設備 | -70℃~+180℃ | 10%~98%RH | 2m3/5m3/10m3 | ± ℃ | GB/T 60068 | 遠程監(jiān)控+數(shù)據(jù)追溯系統(tǒng) | | 上海XX儀器 | -40℃~+150℃ | 20%~95%RH | 3m3/8m3 | ±1℃ | GB/T | 應急冷卻裝置（選配） | | 廣州YY科技 | -60℃~+120℃ | 15%~90%RH | 5m3/15m3 | ± ℃ | IEC 60068-2-2 | 多語言操作界面 | ### 驗收與校準：關鍵檢查項 #### FAT/SAT驗收清單 - **溫度性能**：空載/滿載時，升溫至125℃后穩(wěn)定1小時，記錄工作區(qū)8個點的溫度，計算均勻性。 - **安全聯(lián)鎖**：模擬超溫（設定值+3℃），驗證是否在5秒內(nèi)切斷加熱電源。 - **數(shù)據(jù)記錄**：檢查設備是否支持導出CSV格式的溫度曲線，采樣率是否≥1次/秒。 #### 校準周期建議 - **首次校準**：設備到貨后30天內(nèi)完成。 - **常規(guī)校準**：每12個月一次（高溫老化場景建議縮短至6個月）。 ### FAQ：高頻問題解答 **Q1：如何判斷廠商是否靠譜？** A：核查三項資質(zhì)：1）CNAS實驗室認可證書（編號可在[中國合格評定國家認可委員會]( )官網(wǎng)驗證）；2）設備型式試驗報告（如中國電器科學研究院出具）；3）近3年同類設備銷售案例（要求提供終端用戶聯(lián)系方式）。 **Q2：設備運行中突然停機，可能原因是什么？** A：優(yōu)先檢查三項：1）安全聯(lián)鎖觸發(fā)（如超溫、過載）；2）電源故障（三相電缺相）；3）控制板程序崩潰（重啟后觀察）。若無法解決，立即聯(lián)系廠商并提供故障代碼。 **Q3：高溫老化測試中試樣變形，是設備問題嗎？** A：不一定。需先確認：1）試樣材料是否滿足測試溫度（如ABS塑料在125℃下可能軟化）；2）設備溫度是否超標（通過校準證書驗證）；3）試樣固定方式是否合理（避免局部受熱）。 ### 外部參考 - **中國電器科學研究院**：環(huán)境試驗設備型式試驗報告查詢欄目 - **中國計量科學研究院**：校準能力范圍公示（含步入式試驗箱校準） - **GB/T **：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫 ### 聲明 ### JSON-LD