

隆安
2025-11-24 08:55:38
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老化房、試驗(yàn)箱、老化箱/柜 > 生產(chǎn)廠家
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| 參數(shù) | 定義 | 高溫老化測試典型值 |
|---|---|---|
| 溫度均勻性 | 工作室內(nèi)各點(diǎn)溫差 | ±2℃(GB/T ) |
| 升溫速率 | 室溫到設(shè)定溫度的時間斜率 | 3℃/min(電子元件測試) |
| 控制方式 | 伺服/PID/模糊控制 | 伺服控制(± ℃精度) |
| 安全聯(lián)鎖 | 超溫/過載/門禁保護(hù) | 三重聯(lián)鎖(IEC 61010) |
| 采樣率 | 數(shù)據(jù)記錄頻率 | 1次/秒(動態(tài)測試需求) |
| 廠商 | 溫度范圍 | 濕度范圍 | 容積選項(xiàng) | 控制精度 | 符合標(biāo)準(zhǔn) | 附加特性 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 重慶四達(dá) | -70℃~+300℃ | 10%~98%RH | 80L/225L/500L | ±1℃ | GB/T 2423, IEC 60068 | 遠(yuǎn)程監(jiān)控系統(tǒng) |
| 上海林頻 | -40℃~+180℃ | 20%~95%RH | 150L/408L | ± ℃ | ASTM D1171, ISO 16750 | 應(yīng)急停機(jī)按鈕 |
| 東莞環(huán)儀 | -20℃~+150℃ | 30%~90%RH | 100L/300L | ±2℃ | JESD22, GJB 150A | 數(shù)據(jù)追溯系統(tǒng) |
| 故障現(xiàn)象 | 可能原因 | 解決方案 |
|---|---|---|
| 升溫緩慢 | 加熱管老化 | 更換1000W/220V加熱組件 |
| 溫度波動超標(biāo) | PID參數(shù)失調(diào) | 重新整定參數(shù)(P=50, I=300) |
| 濕度顯示異常 | 傳感器進(jìn)水 | 更換HM1500型濕度探頭 |
Q1:如何判斷設(shè)備溫度均勻性是否達(dá)標(biāo)?
A:使用9點(diǎn)布點(diǎn)法,在空載狀態(tài)下運(yùn)行至設(shè)定溫度,持續(xù)1小時后記錄各點(diǎn)數(shù)據(jù),最大差值應(yīng)≤±2℃(依據(jù)GB/T )。
Q2:進(jìn)口設(shè)備與國產(chǎn)設(shè)備的核心差異?
A:進(jìn)口設(shè)備(如德國Binder)在溫度控制算法上更優(yōu)(± ℃精度),但國產(chǎn)設(shè)備(如重慶四達(dá))在本地化服務(wù)響應(yīng)(≤2小時)和成本(低40%)上更具優(yōu)勢。
Q3:高溫老化測試需要哪些輔助設(shè)備?
A:需配置數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)(采樣率≥1次/秒)、溫度驗(yàn)證儀(如Fluke 9190A)、絕緣電阻測試儀(滿足IEC 60112標(biāo)準(zhǔn))。
因老化試驗(yàn)設(shè)備參數(shù)各異,為確保高效匹配需求,請您向我說明測試要求,我們將為您1對1定制技術(shù)方案
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