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隆安
2025-11-22 14:36:36
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老化房、試驗(yàn)箱、老化箱/柜 > 生產(chǎn)廠家
隆安老化設(shè)備25生產(chǎn)廠家直銷價(jià)格，品質(zhì)售后雙保障，廠家直供價(jià)更優(yōu)！ 馬上咨詢
| 問題 | 答案 |
|---|---|
| 華智試驗(yàn)箱RFID核心參數(shù)？ | 溫度范圍：RT+10℃~300℃，精度±1℃，RFID讀寫距離≥5cm |
| 選型關(guān)鍵指標(biāo)？ | 負(fù)載容量、溫度均勻性、控制方式（PID伺服）、安全聯(lián)鎖 |
| 常見故障及解決？ | 溫度超差→檢查加熱管；RFID斷連→更換天線模塊 |
| 采購(gòu)流程核心步驟？ | 需求確認(rèn)→技術(shù)協(xié)議→FAT/SAT→計(jì)量校準(zhǔn)→維保簽約 |
華智試驗(yàn)箱RFID主要用于電子元器件、汽車零部件、航空航天材料的高溫老化測(cè)試，模擬產(chǎn)品在長(zhǎng)期高溫環(huán)境下的性能衰減。典型應(yīng)用場(chǎng)景包括：
核心參數(shù)表
| 參數(shù) | 說明 | 典型值 |
|---|---|---|
| 溫度范圍 | 工作區(qū)間 | RT+10℃~300℃ |
| 溫度均勻性 | 箱內(nèi)最大溫差 | ≤±2℃（空載） |
| 控制精度 | 設(shè)定值與實(shí)際值偏差 | ±1℃ |
| 分辨率 | 溫度顯示最小單位 | ℃ |
| 采樣率 | 數(shù)據(jù)采集頻率 | 1次/秒 |
| RFID特性 | 讀寫距離/頻率 | ≥5cm / |
適用標(biāo)準(zhǔn)
詢價(jià)模板
| 型號(hào) | 溫度范圍 | 濕度范圍 | 容積 | 控制精度 | 符合標(biāo)準(zhǔn) | 附加特性 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| HZ-200A | RT+10~200℃ | 20%~98%RH | 300L | ± ℃ | GB/T | 遠(yuǎn)程監(jiān)控 |
| HZ-300B | RT+10~300℃ | 無濕度 | 800L | ±1℃ | IEC 60068-2-2 | 多通道RFID |
| HZ-150C | RT+10~150℃ | 30%~85%RH | 200L | ±2℃ | ISO 16750-4 | 數(shù)據(jù)追溯 |
Q1：華智試驗(yàn)箱RFID價(jià)格范圍？
A：基礎(chǔ)型（200L，200℃）約8萬~12萬元，高端型（800L，300℃+多通道RFID）約25萬~40萬元。
Q2：如何解決RFID數(shù)據(jù)丟失問題？
A：檢查天線連接線是否松動(dòng)，更換高頻模塊（如從125kHz升級(jí)至 ）。
Q3：設(shè)備校準(zhǔn)周期是多久？
A：建議每12個(gè)月校準(zhǔn)一次，依據(jù)JJF 1101-2019《環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備溫度校準(zhǔn)規(guī)范》。
Q4：與競(jìng)品相比，華智的優(yōu)勢(shì)是什么？
A：RFID讀寫穩(wěn)定性更高（誤碼率≤ %），支持定制化控制軟件。
Q5：能否用于爆炸性環(huán)境測(cè)試？
A：否，需選擇防爆型試驗(yàn)箱（如Ex d IIB T4認(rèn)證）。
因老化試驗(yàn)設(shè)備參數(shù)各異，為確保高效匹配需求，請(qǐng)您向我說明測(cè)試要求，我們將為您1對(duì)1定制技術(shù)方案
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